X射线探伤室的原理
X射线探伤是指利用X射线能够穿透金属材料,并因为材料对射线的吸收和散射效果的不同,从而使胶片感光不一样,所以在底片上形成黑度不同的印象,据此来判断材料内部缺点状况的一种查验办法。
X射线探伤是利用X射线可以穿透物质和在物质中具有衰减的特性,发现缺点的一种无损检测办法。X射线的波长很短一般为0.001~0.1nm。X射线以光速直线传播,不受电场和磁场的影响,可穿透物质,在穿透进程中有衰减,能使胶片感光。
当X射线穿透物质时,因为射线与物质的相互效果,将发生一系列极为杂乱的物理进程,其成果使射线被吸收和散射而失去一部分能量,强度相应减弱,这种现象称之为射线的衰减。X射线探伤的实质是依据被查验工件与其内部缺点介质对射线能量衰减程度不同,而引起射线透过工件后强度差异,使感光材料(胶片)上取得缺点投影所发生的潜影,经过暗室处理后取得缺点印象,再对照规范评定工件内部缺点的性质和底片级别。